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SRZ-7045UV-G粒径统计分析显微镜
SRZ-7045UV-G粒径统计分析显微镜

SRZ-7045UV-G粒径统计分析显微镜

SRZ-7045UV-G粒径统计分析显微镜是一套专门用于大的固体粉末、建筑沙石、颜料涂层及各类反光材料进行粒径统计的显微分析系统，颗粒的检测范围：20~1000μm。该系统能自动提取每个颗粒的形状，并计算颗粒的尺寸，面积，圆度等参数，自动统计出颗粒的平均直径，及各个区间粒径所占的比例。

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产品来源： SRZ-7045UV-G固体粉末/建筑沙石/颜料涂层颗粒度分析显微镜 http://www.minixwj.com/product/1992/

统计粒径分析显微镜 SRZ-7045UV-G是一套专门用于大的固体粉末，建筑沙石，颜料涂层及各类反光材料进行粒径统计的显微分析系统，颗粒的检测范围：20〜 1000μM。该系统能自动提取每个颗粒的形状，并计算颗粒的尺寸，面积，圆度等参数，自动统计出颗粒的平均直径，及各个区间粒径所占的比例。系统配置了专业高清晰CCD成像系统，使得图像边缘清晰，颗粒的提取更准确。粒度分析软件能自动对颗粒进行统计并给出相应的粒径报表，以供打印输出。该系统应用范围广泛，凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析：例如固体粉末，建筑沙石，颜料涂层，漆表面缺陷分析，农业种子形态分析，各种微小异性几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等，都可以利用UV-G来完成。